| Jenoptik的WaveW800系列粗糙度、轮廓测量装置提高测量速度 | |
| yaoxn@llas.ac.cn | |
| 2018-07-04 | |
| 学科主题 | 数控机床 |
| 来源网址 | http://portal.nstl.gov.cn/STMonitor/home/bianyi_recordshow.htm?id=65003&parentPageId=1530770273800&serverId=&controlType=openhome |
| 内容摘要 | Jenoptik的WaveW800系列粗糙度和轮廓测量装置包括四种配置。在基本配置上包括120毫米导线单元和500毫米垂直测量柱。 新模型的轴速度比以前的模型快六倍。与现有模型相比，可以从结果中过滤出大约30%以上的环境噪声。该系列为测量室中的各种测量任务提供了一个探测系统，包括手动或半自动测量过程。探测系统可以使用磁性快速更换适配器来交换，以便在日常测量程序中灵活使用。测量站组件是模块化的，可以在以后扩展或集成到现有的测量系统中。 该公司的测量仪器包括在多个测量运行中工作的模型以及在单个探测步骤中测量的模型。可用于简单或复杂的测量任务的移动和静止系统。 |
| 来源 | mmsonline |
| 存缴方式 | webcrawl |
| 内容类型 | 科技动态 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/1632161 |
| 专题 | 科技动态 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | yaoxn@llas.ac.cn. Jenoptik的WaveW800系列粗糙度、轮廓测量装置提高测量速度. 2018. |
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