HPGe γ谱仪系统死时间校正方法的实验研究

	HPGe γ谱仪系统死时间校正方法的实验研究
	周丰群; 杨景康; 拓飞; 易艳玲; 孔祥忠
刊名	高能物理与核物理
	2005-12-21
期号	12 页码:4
关键词	HPGeγ谱仪死时间校正因子
中文摘要	给出了HPGeγ谱仪系统死时间校正的一种实用方法.用强源干扰找到了HPGe γ谱仪系统百分死时间与计数率丢失校正因子的关系,使该系统允许计数率大大提高,从而解决了放射性定量测量中的一些困难.
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130920]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	周丰群,杨景康,拓飞,等. HPGe γ谱仪系统死时间校正方法的实验研究[J]. 高能物理与核物理,2005(12):4.
APA	周丰群,杨景康,拓飞,易艳玲,&孔祥忠.(2005).HPGe γ谱仪系统死时间校正方法的实验研究.高能物理与核物理(12),4.
MLA	周丰群,et al."HPGe γ谱仪系统死时间校正方法的实验研究".高能物理与核物理 .12(2005):4.