锗探测器γ谱仪系统的死时间测量

	锗探测器γ谱仪系统的死时间测量
	项斯苍; 王永昌; 袁俊谦; 杨景康
刊名	核技术
	1991-06-30
期号	6 页码:355-358
关键词	高纯锗γ谱仪死时间全谱计数率全能峰计数率
ISSN号	0253-3219
中文摘要	本文研究了测定HpGeγ谱仪死时间的技术。依次测量γ源(1)、γ源(1)+γ源(2)的γ射线谱。分别求出多道分析器上两谱的γ源(1)的特征γ射线的全能峰计数率m_p和全谱计数率m_0,从而计算出死时间。
出版地	SHANGHAI
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130553]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	项斯苍,王永昌,袁俊谦,等. 锗探测器γ谱仪系统的死时间测量[J]. 核技术,1991(6):355-358.
APA	项斯苍,王永昌,袁俊谦,&杨景康.(1991).锗探测器γ谱仪系统的死时间测量.核技术(6),355-358.
MLA	项斯苍,et al."锗探测器γ谱仪系统的死时间测量".核技术 .6(1991):355-358.