铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究

	铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究
	杨化中; 郝恒信; 龚成德
刊名	核技术
	1990-01-31
期号	1 页码:41-44
关键词	快中子注量辐照偏压探测器
ISSN号	0253-3219
中文摘要	本文研究了探测器经注量
出版地	SHANGHAI
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130486]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	杨化中,郝恒信,龚成德. 铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究[J]. 核技术,1990(1):41-44.
APA	杨化中,郝恒信,&龚成德.(1990).铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究.核技术(1),41-44.
MLA	杨化中,et al."铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究".核技术 .1(1990):41-44.