Ultrasmooth epitaxial Ge grown on (001) Si utilizing a thin B-doped SiGe buffer layer | |
Chen, D; Zhang, M; Xue, ZY; Wang, G; Guo, QL; Mu, ZQ; Sun, GD; Wei, X; Liu, S | |
刊名 | APPLIED PHYSICS EXPRESS |
2014-11 | |
卷号 | 7期号:11页码:- |
ISSN号 | 1882-0778 |
通讯作者 | Wei, X (reprint author), Chinese Acad Sci, Inst Microsystem & Informat Technol, State Key Lab Funct Mat Informat, Shanghai 200050, Peoples R China. |
学科主题 | Physics |
语种 | 英语 |
WOS记录号 | WOS:000346119500007 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/126650] |
专题 | 物理科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen, D,Zhang, M,Xue, ZY,et al. Ultrasmooth epitaxial Ge grown on (001) Si utilizing a thin B-doped SiGe buffer layer[J]. APPLIED PHYSICS EXPRESS,2014,7(11):-. |
APA | Chen, D.,Zhang, M.,Xue, ZY.,Wang, G.,Guo, QL.,...&Liu, S.(2014).Ultrasmooth epitaxial Ge grown on (001) Si utilizing a thin B-doped SiGe buffer layer.APPLIED PHYSICS EXPRESS,7(11),-. |
MLA | Chen, D,et al."Ultrasmooth epitaxial Ge grown on (001) Si utilizing a thin B-doped SiGe buffer layer".APPLIED PHYSICS EXPRESS 7.11(2014):-. |
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