并五苯薄膜的AFM及XRD研究

	并五苯薄膜的AFM及XRD研究
	陶春兰; 张旭辉; 董茂军; 欧谷平; 张福甲; 刘一阳; 张浩力
刊名	功能材料/Gongneng Cailiao/Journal of Functional Materials
	2007-05-20
卷号	38 期号:5 页码:740-742
关键词	并五苯薄膜有机场效应晶体管(OFETs) AFM XRD Dry oxidation Organic filed effect transistors (OFETs) Organic semiconductor Pentacene thin film Solution process
ISSN号	10019731
其他题名	Analysis of pentacene thin films using atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD)
通讯作者	Tao, C.-L.
中文摘要	报道了以热氧化硅片为衬底,用溶液溶解和真空蒸镀两种方法制备有机半导体材料并五苯薄膜。用原子力显微镜(AFM)分析了薄膜的形貌,用X射线衍射仪(XRD)分析了薄膜的晶体结构,讨论了诸多因素对薄膜的影响以及两种方法制备的并五苯薄膜的相结构。
学科主题	712.1 Semiconducting Materials;741.3 Optical Devices and Systems;812 Ceramics, Refractories and Glass;931.2 Physical Properties of Gases, Liquids and Solids;931.3 Atomic and Molecular Physics;933.1.1 Crystal Lattice
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://202.201.7.4:8080/handle/262010/102655]
专题	物理科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	陶春兰,张旭辉,董茂军,等. 并五苯薄膜的AFM及XRD研究[J]. 功能材料/Gongneng Cailiao/Journal of Functional Materials,2007,38(5):740-742.
APA	陶春兰.,张旭辉.,董茂军.,欧谷平.,张福甲.,...&张浩力.(2007).并五苯薄膜的AFM及XRD研究.功能材料/Gongneng Cailiao/Journal of Functional Materials,38(5),740-742.
MLA	陶春兰,et al."并五苯薄膜的AFM及XRD研究".功能材料/Gongneng Cailiao/Journal of Functional Materials 38.5(2007):740-742.