用正电子湮没寿命技术研究塑性变形纯Ni的回复过程

	用正电子湮没寿命技术研究塑性变形纯Ni的回复过程
	王天民; 刘常林; 童志深; 徐荣辉; 马峰
刊名	核技术
	1987-05-01
期号	4 页码:7-12+61
关键词	正电子湮没镍回复空位位错空位团
其他题名	用正电子湮没寿命技术研究塑性变形纯Ni的回复过程
中文摘要	本文用正电子湮没寿命方法研究了塑性变形镍(含0.01％杂质)的回复过程的特点及杂质在缺陷回复过程的作用和影响,计算了形变为10％的试样中的位错密度及形成空位团的有效空位浓度。
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://202.201.7.4:8080/handle/262010/101760]
专题	物理科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	王天民,刘常林,童志深,等. 用正电子湮没寿命技术研究塑性变形纯Ni的回复过程[J]. 核技术,1987(4):7-12+61.
APA	王天民,刘常林,童志深,徐荣辉,&马峰.(1987).用正电子湮没寿命技术研究塑性变形纯Ni的回复过程.核技术(4),7-12+61.
MLA	王天民,et al."用正电子湮没寿命技术研究塑性变形纯Ni的回复过程".核技术 .4(1987):7-12+61.