原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq_4_ITO和LiBq_4_CuPc_ITO的表面分析

	原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq_4_ITO和LiBq_4_CuPc_ITO的表面分析
	欧谷平; 宋珍; 桂文明; 张福甲
刊名	物理学报
	2005-12-12
期号	12 页码:6
关键词	原子力显微镜 x射线光电子能谱电子亲和势
其他题名	原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq4/ITO和LiBq4/CuPc/ITO的表面分析
中文摘要	利用原子力显微镜对8-羟基喹啉硼化锂(LiBq4)/铟锡氧化物和8-羟基喹啉硼化锂/酞菁铜(CuPc)/铟锡氧化物表面分别进行了扫描,显示了LiBq4在不同衬底上的形貌差异,并进一步利用样品表面的x射线光电子能谱图验证了这一差异.实验表明,CuPc层的加入改善了LiBq4的成膜质量,并将这种改善归因于分子构型与电子亲和势的不同.
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://202.201.7.4:8080/handle/262010/101566]
专题	物理科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	欧谷平,宋珍,桂文明,等. 原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq_4_ITO和LiBq_4_CuPc_ITO的表面分析[J]. 物理学报,2005(12):6.
APA	欧谷平,宋珍,桂文明,&张福甲.(2005).原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq_4_ITO和LiBq_4_CuPc_ITO的表面分析.物理学报(12),6.
MLA	欧谷平,et al."原子力显微镜与x射线光电子能谱对LiBq_4_ITO和LiBq_4_CuPc_ITO的表面分析".物理学报 .12(2005):6.