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电子束蒸发α-Si↓(1-x)Cr↓x薄膜的ESR研究
甘润今; 陈光华; 张津燕; 张仿清
刊名兰州大学学报
1993-07-02
期号2页码:37-42
关键词电子自旋共振 a-Si 薄膜 过渡金属 悬挂键
其他题名电子束蒸发a-Si_(1-x)Cr_x薄膜的ESR研究
中文摘要本文报导对电子束蒸发的 a-Si_(1-x)Cr_x 薄膜的 ESR 研完结果.实验结果表明,随掺 Cr 组分 X 的变化,薄膜的各个 ESR 特性参数都发生变化:(2.0034±0.0001)≤g≤(2.0052±0.0001).线型因子1为(2.14±0.01)≤1≤(3.57±0.01),峰峰宽△Bpp 为(6.20±0.05)G≤△Bpp≤(8.70±0.05)G.基于这些实验结果,我们采用 S.E.Barnes 的 ESR 动力理论对结果进行了分析讨论,揭示出 Cr 原子对 a-Si 薄膜悬挂键的补偿,Cr 原子的3d 局域自旋磁矩与传导电子的交换互作用是使 ESR 参数变化的原因.
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://202.201.7.4:8080/handle/262010/101236]  
专题物理科学与技术学院_期刊论文
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GB/T 7714
甘润今,陈光华,张津燕,等. 电子束蒸发α-Si↓(1-x)Cr↓x薄膜的ESR研究[J]. 兰州大学学报,1993(2):37-42.
APA 甘润今,陈光华,张津燕,&张仿清.(1993).电子束蒸发α-Si↓(1-x)Cr↓x薄膜的ESR研究.兰州大学学报(2),37-42.
MLA 甘润今,et al."电子束蒸发α-Si↓(1-x)Cr↓x薄膜的ESR研究".兰州大学学报 .2(1993):37-42.
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