| A Novel Image Quality Metric Based on Morphological Component Analysis | |
| Li XL(李学龙) ; L. He ; W. Lu ; X. Gao ; D. Tao | |
| 2010 | |
| 会议名称 | ieee international conference on systems, man, and cybernetics (smc) |
| 会议日期 | 2010 |
| 会议地点 | harbiye military museum and cultural center istanbul, turkey |
| 关键词 | Image Quality Measurement, Morphological Component Analysis, Texture, Cartoon component, JND |
| 通讯作者 | 李学龙 |
| 收录类别 | 其他 |
| 合作状况 | 其它 |
| 学科主题 | 信号与模式识别 ; 计算机应用其他学科（含图像处理） |
| 语种 | 英语 |
| ISSN号 | 4244-6588 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/8556]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li XL,L. He,W. Lu,et al. A Novel Image Quality Metric Based on Morphological Component Analysis[C]. 见:ieee international conference on systems, man, and cybernetics (smc). harbiye military museum and cultural center istanbul, turkey. 2010. |
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