掺质TGS系列晶体的生长形态与表征的研究 | |
张克从 ; 常新安 ; 王希敏 | |
2012-04-24 ; 2012-04-24 | |
关键词 | 掺质TGS晶体 溶液晶体生长 生长形态 表征 热释电晶体 |
中文摘要 | 采用水溶液缓慢降温法生长了8种掺质TGS系列晶体,即LVATGS,LHITGS,LASTGS,CRTGS,DLSETGS,LCYTGS,LMETGS和LTYTGS晶体。系统地研究了这8种掺质TGS系列晶体的生长形态,并分别与纯TGS进行了对比。利用X射线粉末衍射与红外光谱分析确定掺质均已进入了晶体。当掺质进入TGS晶体后,虽然只引起结构的微小变化,但显著地改变了晶体的生长形态,证明TGS晶体结构对掺质分子是非常敏感的。据此为进一步研究掺质TGS晶体结构与性能关系,为识别掺质TGS晶体结构中掺质分子的取向与堆积方式提供了科学依据 |
原文出处 | http://guest.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=RGJT702.000&dbname=CJFQ1997 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/19379] ![]() |
专题 | 北京工业大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张克从,常新安,王希敏. 掺质TGS系列晶体的生长形态与表征的研究[J],2012, 2012. |
APA | 张克从,常新安,&王希敏.(2012).掺质TGS系列晶体的生长形态与表征的研究.. |
MLA | 张克从,et al."掺质TGS系列晶体的生长形态与表征的研究".(2012). |
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