CORC  > 清华大学
基于TRC重播种的二维测试数据压缩
周彬 ; 叶以正 ; 李兆麟 ; 王志伟 ; Zhou Bin ; Ye Yi-zheng ; Li Zhaolin ; Wang Zhiwei
2010-07-15 ; 2010-07-15
会议名称第五届中国测试学术会议 ; CNKI
关键词内建自测试 测试数据压缩 扭环计数器 BIST Test Data Compression Twisted-ring counter. TN407
其他题名Two-Dimensional Test Data Compression Based on TRC-Reseeding
中文摘要为了减少测试模式的存储需求,本文提出了一种基于扭环计数器作为测试模式产生器的横向和竖向数据压缩技术。首先,利用输入精简技术对测试集进行横向压缩,接着,对横向压缩之后的测试集再进行竖向压缩,在竖向压缩方面,我们利用了一个有效的种子选择算法,它能将确定性的测试集压缩成很小的种子集。基于ISCAS89 Benchmark的实验结果表明,采用本方案昕实现的测试电路,存储位数平均减少了44%,测试矢量的长度平均减少了79%,硬件消耗平均减少了16%。; In order to reduce the storage requirements for the test patterns,a vertical and horizontal compression technique based on the test pattern generation of twisted-ring counter is proposed.Firstly.the cubes width of the test set can be compressed with the classical technique-input reduction.Secondly,a more efficient seed selection algorithm targeting the minimization of the selected seed volumes for the test set embedding case is utilized.Experimental results for the 1SCAS'89 benchmark circuits show that the proposed scheme requires 44% less test storage,79% less test patterns,and 16% less hardware overhead compared with previous schemes.
语种中文 ; 中文
内容类型会议论文
源URL[http://hdl.handle.net/123456789/69748]  
专题清华大学
推荐引用方式
GB/T 7714
周彬,叶以正,李兆麟,等. 基于TRC重播种的二维测试数据压缩[C]. 见:第五届中国测试学术会议, CNKI.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace