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	FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究
	李雪莲 ; 李月香 ; 袁涛 ; LI Xuelian ; LI Yuexiang ; YUAN Tao
	2010-06-09 ; 2010-06-09
关键词	FPGA测试 测试方法 故障屏蔽 FPGA testing test method masking of faults TN791
其他题名	Research on Fault Mask in the Test of FPGA
中文摘要	通过对基于SRAM结构的FPGA测试方法进行分析和研究,提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象,并给出该现象的产生原因和判断条件,在此基础上,进一步提出相应的解决办法和建议,以避免或减少故障屏蔽现象的出现,提高测试FPGA的故障覆盖率.; Field Programmable Gate Arrays(FPGAs)are widely used in the hardware implementation of circuit design.Detecting the faults of FPGAs is very important.This paper presented the problem of fault mask in the test of FPGA,and focused its research on the generating reasons and conditions of fault mask.Finally,the solutions and suggestions are given to reduce its appearance and to improve the fault coverage of FPGA test.
语种	中文 ; 中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://hdl.handle.net/123456789/58016]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李雪莲,李月香,袁涛,等. FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究[J],2010, 2010.
APA	李雪莲,李月香,袁涛,LI Xuelian,LI Yuexiang,&YUAN Tao.(2010).FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究..
MLA	李雪莲,et al."FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究".(2010).

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