| 分子电子器件的电性能测试方法 | |
| 王伟 ; WANG Wei | |
| 2010-06-07 ; 2010-06-07 | |
| 关键词 | 分子电子学 分子电子器件 电性能测试 molecular electronics,molecular electronic devices,electrical properties measurement TN407 |
| 其他题名 | Measurement of the electrical properties of molecular electronic devices |
| 中文摘要 | 介绍了用于两端分子电子器件电性能测试的纳米孔技术、交叉线接触技术、导电原子力显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、纳米间距电极技术以及机械可控断裂结技术.结合分子器件的电性能测试要求,对各类测试方法进行了分析评价,并简要指出了分子器件电性能测试研究的发展趋势.; This paper describes several ways to measure the electrical properties of two-terminal molecular electronic devices,including methods employing nanopores,crossed-wire junctions,conducting atomic force microscopy,scanning tunneling microscopy,nanometer-spaced electrodes and mechanically controllable break junctions.An analysis of these methods based on the test requirements is presented,as well as a brief discussion on new trends in molecular device measurements. |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/40562]  |
| 专题 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王伟,WANG Wei. 分子电子器件的电性能测试方法[J],2010, 2010. |
| APA | 王伟,&WANG Wei.(2010).分子电子器件的电性能测试方法.. |
| MLA | 王伟,et al."分子电子器件的电性能测试方法".(2010). |
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