双折射滤波器晶体片厚度精度与滤波性能的研究
吴闻迪; 王会丽; 周田华; 周军; 吴福全
刊名中国激光
2014
卷号41期号:12页码:1208009
关键词光学器件 偏振光学 双折射滤波器 偏振干涉 厚度精度 滤波性能
其他题名Research on the Filter Performance with Crystal Thickness Accuracy in the Birefringent Filters
通讯作者Wu Wendi, The Laser Research Institute, Qufu Normal University, Shanghai Key Laboratory of All Solid-State Laser and Applied Techniques, Qufu, Shandong 273165, China. ; Wang Huili, The Laser Research Institute, Qufu Normal University, Qufu, Shandong 273165, China. ; Wu Fuquan, The Laser Research Institute, Qufu Normal University, Qufu, Shandong 273165, China. ; Zhou Tianhua, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai Key Laboratory of All Solid-State Laser and Applied Techniques, Shanghai 201800, China. ; Zhou Jun, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai Key Laboratory of All Solid-State Laser and Applied Techniques, Shanghai 201800, China.
中文摘要为了对双折射滤波器中晶体片厚度需要达到的精度进行定量分析,根据双折射滤波器的滤波原理,引入了晶体片材料的双折射率色散,得出了晶体片的厚度偏差、相位延迟量偏差、目标波长移动量之间的关系,最后进行了模拟验证。结果表明,对于铌酸锂晶体制作的晶体片,材料的双折射率色散是不可忽略的,基于它得到的厚度精度是保证滤波器性能的必要条件,这些研究结论对于高性能双折射滤波器的实际制作有重要的参考价值。
英文摘要In order to make quantitative analysis to the accuracy crystal thickness in the birefringent filters, based on the fundamental filter theory, by introducing the birefringent dispersion of crystal, the exact relationship of crystal thickness accuracy, phase retarder deviation and spectrum shift is built up. Theoretical analysis and simulation are put forward strictly. The results show that the birefringent dispersion cannot be neglected when using LiNb03 as the materials of plates and that the crystal thickness accuracy can ensure a good transmission spectrum,which may be useful for constructing high-performance birefringent filer.
收录类别EI
原文出处http://www.opticsjournal.net
语种中文
内容类型期刊论文
版本出版稿
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/12886]  
专题上海光学精密机械研究所_空间激光信息技术研究中心
作者单位1.吴闻迪, 曲阜师范大学激光研究所, 上海市全固态激光器与应用技术重点实验室, 曲阜, 山东 273165, 中国.
2.王会丽, 曲阜师范大学激光研究所, 曲阜, 山东 273165, 中国.
3.吴福全, 曲阜师范大学激光研究所, 曲阜, 山东 273165, 中国.
4.周田华, 中国科学院上海精密光学机械研究所, 上海市全固态激光器与应用技术重点实验室, 上海 201800, 中国.
5.周军, 中国科学院上海精密光学机械研究所, 上海市全固态激光器与应用技术重点实验室, 上海 201800, 中国.
推荐引用方式
GB/T 7714
吴闻迪,王会丽,周田华,等. 双折射滤波器晶体片厚度精度与滤波性能的研究[J]. 中国激光,2014,41(12):1208009.
APA 吴闻迪,王会丽,周田华,周军,&吴福全.(2014).双折射滤波器晶体片厚度精度与滤波性能的研究.中国激光,41(12),1208009.
MLA 吴闻迪,et al."双折射滤波器晶体片厚度精度与滤波性能的研究".中国激光 41.12(2014):1208009.
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