彩虹纹影测量成像系统及方法

	彩虹纹影测量成像系统及方法
	戴国亮; 孙志斌; 代斌; 王静
	2016-11-30
专利国别	中国
专利号	ZL201410095199.0
专利类型	发明
中文摘要	一种彩虹纹影测量成像系统和方法，该系统包括光源，用于输出光信号；以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、流场观测区域、第二聚焦透镜、彩虹滤波片、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和三色单点光电探测器；与三色单点光电探测器电信号连接的压缩算法模块，用于重构彩色图像，依据图像的彩虹纹影计算方法计算出观测流场的密度变化分布。本发明将压缩感知理论与彩虹纹影测量相结合，创造性的提出稀疏彩虹纹影测量方法，具有高通量、高信噪比、快速灵活的特点，适宜于常规光强、弱光、微弱光、超微弱光和单光子彩虹纹影测量方式，是一种大动态范围的稀疏彩虹纹影测量方法。
公开日期	2014-03-14
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/59770]
专题	力学研究所_国家微重力实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	戴国亮,孙志斌,代斌,等. 彩虹纹影测量成像系统及方法. ZL201410095199.0. 2016-11-30.