用QCD理论研究D→πl■(l=e;μ)衰变过程 | |
赵书华; 吴义恒; 王清才; 王岩; 刘晓静![]() ![]() | |
刊名 | 核电子学与探测技术
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2010 | |
期号 | 12页码:1582-1586+1593 |
关键词 | D介子半轻衰变 分支比 形状因子 |
其他题名 | Research on D→πlV(l=e;μ) Decay with QCD Theory |
中文摘要 | 用光锥QCD求和规则计算D→πl~vl(l=e,μ)衰变过程的分支比。通过计算D→π跃迁形状因子fD+π(q2)和计算形状因子~fDπ(q2),就能考虑轻子(e,μ)质量对分支比的影响,可分别计算D→πe~ve,D→πμ~vμ衰变过程的分支比,并把理论计算与最近实验结果进行了比较,发现计算的分支比在实验数据误差范围之内。 |
公开日期 | 2016-02-25 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218482] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_粒子天体物理中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵书华,吴义恒,王清才,等. 用QCD理论研究D→πl■(l=e;μ)衰变过程[J]. 核电子学与探测技术,2010(12):1582-1586+1593. |
APA | 赵书华.,吴义恒.,王清才.,王岩.,刘晓静.,...&郭义庆.(2010).用QCD理论研究D→πl■(l=e;μ)衰变过程.核电子学与探测技术(12),1582-1586+1593. |
MLA | 赵书华,et al."用QCD理论研究D→πl■(l=e;μ)衰变过程".核电子学与探测技术 .12(2010):1582-1586+1593. |
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