正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示

	正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示
	郭应焕; 杨巨华
刊名	核技术
	1998
期号	10 页码:590-592
关键词	正电子湮没强度寿命几率密度
其他题名	CORRECT EXPRESSION OF ANALYTICAL RESULTS OF POSITRON ANNIHILATION LIFETIME SPECTRA
通讯作者	郭应焕
中文摘要	正电子湮没寿命的多寿命成分分析结果通常给出各成分的寿命τi及其零时相对湮没强度Ii(O).指出用零时相对或绝对湮没强度讨论分析结果并不合理,只有正电子在各湮没态上的零时相对占有数Ni(O)=τiIi(O)或占有率ni(O)=Ni(O)/∑Ni(O)才有明确的物理意义,因为正电子在态上的几率密度ni(O)与正电子湮没环境介质的结构特性密切相关.并以二态捕获模型为例对上述论点作了证明.
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221648]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	郭应焕,杨巨华. 正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示[J]. 核技术,1998(10):590-592.
APA	郭应焕,&杨巨华.(1998).正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示.核技术(10),590-592.
MLA	郭应焕,et al."正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示".核技术 .10(1998):590-592.